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2至400 nm粒徑分布
連續(xù)和快速掃描的測量原理
高分辨率，多達128個分類器/衰減
適用于高達10^8顆粒/立方厘米的濃度
通用連接其他制造商的DMA和納米粒子計數器
圖形顯示測量值
直觀操作，使用7英寸觸摸屏和GUI
集成數據記錄儀
支持多種接口和遠程訪問
低維護
功能可靠
減少您的運營費用
適用于高氣溶膠濃度的Palas?通用掃描遷移率粒度儀（U-SMPS）有兩種版本。 U-SMPS帶有短分類柱（1700型），特別適合2-400 nm范圍內的極高精度粒度分布測量。Palas?U-SMPS系統(tǒng)包括一個分類器[在ISO 15900中定義稱為差動遷移率分類器（DEMC），也稱為差動遷移率分析儀（DMA）]，根據氣溶膠顆粒電遷移率選擇氣溶膠顆粒并傳遞到出口。然后，在下游的Charme?氣溶膠靜電計中測量這些粒子攜帶的電荷。
氣溶膠靜電計的一個主要優(yōu)點是可以進行非?？焖俚臏y量。但是，這種方法需要很高的成本。因此，其適用性被限制于高氣溶膠濃度（例如，燃燒過程或顆粒發(fā)生器的下游）?？梢酝ㄟ^物理參數直接追溯每時間單位（流量）的電荷測量值。其結果是，此方法主要用作凝結粒子計數器（例如UF-CPC）校準期間的參考。
U-SMPS使用觸摸屏圖形用戶界面進行操作。可以在短短30秒內執(zhí)行單粒子分布掃描，或者在多達128個尺寸通道中執(zhí)行掃描，在此期間，DEMC分類器中的電壓連續(xù)變化，從而導致每個尺寸通道的計數統(tǒng)計效率更高。集成的數據記錄器允許在設備上線性和對數顯示測量值。隨附的評估軟件提供各種數據評估（豐富的統(tǒng)計和平均值計算）和導出功能。
U-SMPS通常作為獨立設備運行，但也可以使用各種接口（USB，LAN，WLAN，RS-232 / 485）連接到計算機或網絡。 Palas?U-SMPS普遍支持其他制造商的DMA，CPC和氣溶膠靜電計。
U-SMPS的準確尺寸測定和可靠性能尤其重要，特別是對于校準。所有組件都必須通過嚴格的質量保證測試，并在內部組裝。
圖1展示U-SMPS的工作原理：
圖1：使用氣溶膠靜電計作為濃度測量裝置的通用掃描遷移率粒度儀（U-SMPS）的工作原理
氣溶膠在進入分類器（DEMC列）之前經過調節(jié)?？蛇x的干燥器（例如硅膠，Nafion）可以去除顆粒中的水分。使用雙極中和劑（例如Kr 85）來確保測定的氣溶膠電荷分布。為了去除大于分類器尺寸范圍的顆粒，需要在DEMC的入口處使用撞擊器。
然后，氣溶膠通過入口導入DEMC色譜柱。沿著外部電極的氣溶膠流在此與護套氣流仔細合并。重要的是在此處避免任何湍流，以確保層流。電極的表面在光滑度和公差方面必須具有極高的質量。
鞘空氣是干燥、無顆粒的載氣（通常是空氣），其體積大于連續(xù)在閉環(huán)中循環(huán)的氣溶膠體積。鞘空氣與樣品空氣的體積比決定傳遞函數，因此決定DEMC的分離能力。通過施加電壓，在內外電極之間會產生一個徑向對稱的電場。內電極在末端帶有小縫隙，帶正電。通過平衡每個粒子上的電場力及其在電場中的空氣動力學阻力，帶負電的粒子被轉移到正電極。根據它們的電遷移率，一些顆粒會穿過狹縫并離開DEMC。
在工作中，電壓和電場因此而連續(xù)變化。結果，具有變化遷移率的顆粒會離開DEMC，并且由納米顆粒計數器 – 在此顯示為氣溶膠靜電計（例如Palas?Charme?）連續(xù)測量。
